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  • AG德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK 光學(xué)儀器配件
    德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK 光學(xué)儀器配件

    德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK 光學(xué)儀器配件 AG 分束器 濾光片 圖像分割器 熒光質(zhì)量監(jiān)測(cè) 偏振濾光片 光學(xué)濾波器

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):AG訪問量:1177
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  • X-CITE®XYLIS德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK LED光源
    德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK LED光源

    德國(guó)AHF ANALYSENTECHNIK LED光源 可同時(shí)應(yīng)用于復(fù)式與立體顯微鏡的*LED熒光照明從DAPI到Cy7的廣譜激發(fā)覆蓋

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):X-CITE®XYLIS訪問量:1380
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  • ITS美國(guó)QUEST(QI2)感應(yīng)熱成像系統(tǒng)
    美國(guó)QUEST(QI2)感應(yīng)熱成像系統(tǒng)

    美國(guó)QUEST(QI2)感應(yīng)熱成像系統(tǒng),非接觸式測(cè)量系統(tǒng) 是為檢查 F-15 垂直穩(wěn)定器的鋁蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料而開發(fā)的,它是新一代瞬態(tài)熱成像系統(tǒng),它使用導(dǎo)電材料的感應(yīng)加熱來檢測(cè)缺陷。

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):ITS訪問量:1349
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  • MOI +美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng)
    美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng)

    美國(guó)QUEST(QI2)光學(xué)成像系統(tǒng),非接觸式測(cè)量系統(tǒng) MOI 是一種高效且高效的無損評(píng)估 (NDE) 過程,可用于檢測(cè)緊固件附近飛機(jī)蒙皮的表面和亞表面裂紋,以及亞表面腐蝕

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):MOI +訪問量:1479
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  • OT-2020ON-TRAK 平面度方正度直線度激光測(cè)量?jī)x
    ON-TRAK 平面度方正度直線度激光測(cè)量?jī)x

    ON-TRAK 平面度方正度直線度激光測(cè)量?jī)x(OT-2020)旋轉(zhuǎn)激光靶與旋轉(zhuǎn)激光器一起提供最快,最準(zhǔn)確的方法來測(cè)量高達(dá)100英尺的平面度,垂直度和直線度,使用電池以實(shí)現(xiàn)最大的現(xiàn)場(chǎng)便攜性

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):OT-2020訪問量:1498
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  • OT-7000美國(guó) ON TRACK 無線激光準(zhǔn)直儀
    美國(guó) ON TRACK 無線激光準(zhǔn)直儀

    美國(guó) ON TRACK 無線激光準(zhǔn)直儀 同時(shí)顯示每個(gè)測(cè)量目標(biāo)的X-Y偏差-通過基于Windows的計(jì)算機(jī)、RF控制器模塊或通過位于每個(gè)目標(biāo)專用CPU上的LED顯示器。

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):OT-7000訪問量:1424
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  • CPL Solo UV/Vis美國(guó) OLIS圓偏振光譜儀
    美國(guó) OLIS圓偏振光譜儀

    美國(guó) OLIS圓偏振光譜儀CPL SOLO UV/VIS,手性樣品分析,鑭系元素表征,蛋白質(zhì)研究。

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):CPL Solo UV/Vis訪問量:2036
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  • CPL Solo UV/Vis美國(guó) OLIS 圓偏振發(fā)光光譜儀
    美國(guó) OLIS 圓偏振發(fā)光光譜儀

    美國(guó) OLIS 圓偏振發(fā)光光譜儀CPL SOLO UV/VIS,手性樣品分析,鑭系元素表征,蛋白質(zhì)研究。

    更新時(shí)間:2025-12-17型號(hào):CPL Solo UV/Vis訪問量:1947
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